鋁(lv)銅上的非導電涂層(ceng)的厚度測量 美國 狄(di)夫斯高 defelsko 鍍層涂層測厚儀NRS1 NRS2 NRS3

5、記錄數據，如果還需測不(bu)同(tong)的(de)點則(ze)重復上(shang)述1－4點，所需要測試工作結束(shu)后清潔探(tan)頭（使用軟布或(huo)質量較好的(de)紙巾擦拭探(tan)頭表面）。

測量(liang)前校準（涂層(ceng)材質(zhi)有變化時(shi)）：
1、記(ji)憶；打開記憶選項(xiang)，儀器可記錄測試數(shu)據。
2、調零“零點調整(zheng)"；

5、記錄數據(ju)，如果還需測不同的點(dian)則重復上述1－4點(dian)，所需要測試工作(zuo)結束后清潔探頭（使用軟布(bu)或質量較好(hao)的紙巾擦拭探頭表面(mian)）。

測(ce)量前校準(zhun)（涂層(ceng)材質有變化時）：
1、記憶；打(da)開記憶選項，儀器可記錄(lu)測試數據。
2、調零“零點調整"；

5、記錄數據(ju)，如果還需(xu)測不同的點則(ze)重復(fu)上述1－4點，所需(xu)要測試工作(zuo)結束后清潔探(tan)頭（使用軟(ruan)布或質量較(jiao)好的紙巾擦拭探(tan)頭表面(mian)）。

測量前校(xiao)準(zhun)（涂層材(cai)質有變(bian)化時）：
1、記憶；打(da)開記憶選(xuan)項，儀(yi)器可(ke)記錄(lu)測試數據。
2、調零(ling)“零(ling)點調整"；

5、記錄數(shu)據，如果還需測不同的點則重復上述1－4點，所(suo)需要(yao)測試工作(zuo)結束后清(qing)潔探頭（使用軟布或(huo)質量較好的紙巾(jin)擦拭探頭表面）。

測(ce)量(liang)前校(xiao)準(zhun)（涂層材質有變化時）：
1、記憶；打(da)開記憶選項，儀器可記錄測試數據。
2、調零“零點(dian)調整"；

5、記錄(lu)數據，如果還需測不(bu)同的點則(ze)重復上述(shu)1－4點，所需要測試(shi)工作(zuo)結束后(hou)清潔(jie)探頭(tou)（使用軟布或質量較(jiao)好的紙巾擦拭探頭(tou)表面）。

測量前校準（涂層材質有變化時）：
1、記憶；打開記憶選項(xiang)，儀器(qi)可記錄測試數據。
2、調零“零點調整"；