　　2、基(ji)體金(jin)屬電(dian)導(dao)率：基(ji)體金(jin)屬的電(dian)導(dao)率會影響測量結果，因為它與基(ji)體金(jin)屬材(cai)料成分(fen)及熱處理方法有關。確保基(ji)體金(jin)屬的電(dian)導(dao)率穩定可(ke)以幫助減(jian)少誤差。

　　3、基體金(jin)屬臨界(jie)厚(hou)度(du)：任何測(ce)厚(hou)儀都有一定的(de)(de)(de)臨界(jie)厚(hou)度(du)，只有當基體金(jin)屬厚(hou)度(du)超過這個(ge)臨界(jie)值時(shi)，測(ce)量結果(guo)才(cai)會(hui)不受基體金(jin)屬厚(hou)度(du)的(de)(de)(de)影響(xiang)。了(le)解并(bing)控制好這個(ge)臨界(jie)厚(hou)度(du)是非常重(zhong)要的(de)(de)(de)。

FMP30測厚儀

　　4、渦流測(ce)(ce)厚儀(yi)(yi)的(de)邊(bian)緣效(xiao)應：渦流測(ce)(ce)厚儀(yi)(yi)在(zai)對靠近樣品邊(bian)緣或內轉角處進(jin)行測(ce)(ce)量(liang)(liang)時可能(neng)會(hui)產生誤(wu)差。建議在(zai)測(ce)(ce)量(liang)(liang)時盡(jin)量(liang)(liang)避開這些區域。

　　5、樣(yang)品曲(qu)率(lv)：樣(yang)品的(de)曲(qu)率(lv)也(ye)會影響測量結果，尤(you)其是當曲(qu)率(lv)半徑(jing)較小(xiao)時，影響會更(geng)加(jia)顯著。盡量選擇平(ping)面或者曲(qu)面較少的(de)樣(yang)品進行測量。

　　6、表面(mian)粗(cu)糙(cao)度：基體金屬和覆蓋層的表面(mian)粗(cu)糙(cao)度都會(hui)影響測量的精度。確(que)保(bao)兩者的表面(mian)盡可能平整(zheng)可以減(jian)少(shao)誤差。

　　7、探頭(tou)污染：渦流測(ce)(ce)厚儀(yi)對阻攔測(ce)(ce)頭(tou)與覆蓋層表(biao)面(mian)緊密接觸的附著(zhu)物質敏感。在測(ce)(ce)量前應(ying)清(qing)除測(ce)(ce)頭(tou)和覆蓋層表(biao)面(mian)的污物。

　　8、耦合(he)(he)劑的(de)(de)使(shi)用：耦合(he)(he)劑是(shi)用來作為探頭與被(bei)測(ce)材料之間的(de)(de)高頻超(chao)聲能量(liang)傳遞(di)的(de)(de)媒介。使(shi)用適當的(de)(de)耦合(he)(he)劑并確(que)保其均勻分布可以避(bi)免測(ce)量(liang)誤差。

　　以上就是使(shi)用FMP30測(ce)厚儀時(shi)應注意(yi)的主要(yao)誤差來源及其避免方法。遵(zun)循這些指(zhi)導原則可以幫助您(nin)獲得更(geng)準確的測(ce)量(liang)結果。

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使用FMP30測厚儀時，有哪些常見的誤差來源應該避免