北京凱達涂層測(ce)厚儀NDT530操作使用手冊和應用案例

F1探頭 N1探頭

• 采用了磁(ci)性和渦流兩種(zhong)測厚方法，即可測量(liang)磁(ci)性金屬(shu)基體上(shang)非(fei)磁(ci)性覆(fu)蓋層(ceng)的厚度(du)(du)又可測量(liang)非(fei)磁(ci)性金屬(shu)基體上(shang)非(fei)導電(dian)覆(fu)蓋層(ceng)的厚度(du)(du)；
• 可使用多種測(ce)頭(F1、F1/90°F10、N1、N1/90°N10)；
• 具有(you)兩種測量(liang)(liang)方(fang)式：連續測量(liang)(liang)方(fang)式（CONTINUE）和(he)單次測量方式（SINGLE）；

具有兩種(zhong)工作方(fang)式：直(zhi)接方(fang)式(DIRECT)和(he)成組(zu)方式(A-B)；

• 采用了磁(ci)性(xing)和渦流兩種測厚方法，即可(ke)測量磁(ci)性(xing)金屬(shu)基體上(shang)非(fei)磁(ci)性(xing)覆(fu)蓋層的厚度(du)又可(ke)測量非(fei)磁(ci)性(xing)金屬(shu)基體上(shang)非(fei)導電覆(fu)蓋層的厚度(du)；
• 可使用多(duo)種測(ce)頭(F1、F1/90°F10、N1、N1/90°N10)；
• 具有兩種測(ce)量方(fang)(fang)式(shi)：連(lian)續測(ce)量方(fang)(fang)式(shi)（CONTINUE）和單次測(ce)量方式（SINGLE）；

具有兩種工作方式(shi)：直(zhi)接方式(shi)(DIRECT)和成組(zu)方式(A-B)；

• 采用(yong)了磁(ci)(ci)性和(he)渦流兩種(zhong)測厚(hou)方法，即可測量磁(ci)(ci)性金屬基體上非磁(ci)(ci)性覆蓋(gai)層的(de)厚(hou)度(du)又可測量非磁(ci)(ci)性金屬基體上非導電覆蓋(gai)層的(de)厚(hou)度(du)；
• 可使用(yong)多種(zhong)測(ce)頭(tou)(F1、F1/90°F10、N1、N1/90°N10)；
• 具有兩(liang)種測(ce)量(liang)方(fang)式(shi)：連(lian)續測(ce)量(liang)方(fang)式(shi)（CONTINUE）和單次測(ce)量方式（SINGLE）；

具有兩種工作方(fang)式：直接方(fang)式(DIRECT)和(he)成組方(fang)式(A-B)；

• 采用了(le)磁(ci)性(xing)和渦流兩種測厚方法(fa)，即可測量(liang)磁(ci)性(xing)金(jin)屬基體上非磁(ci)性(xing)覆蓋層的厚度(du)又可測量(liang)非磁(ci)性(xing)金(jin)屬基體上非導電覆蓋層的厚度(du)；
• 可使用多種測頭(tou)(F1、F1/90°F10、N1、N1/90°N10)；
• 具(ju)有(you)兩種(zhong)測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；

具有兩(liang)種工作方式：直接方式(DIRECT)和(he)成(cheng)組方(fang)式(A-B)；