德國Fischer菲希爾測厚(hou)儀(yi)FMP10 FMP20使用操作(zuo)手(shou)冊(ce)和測量(liang)方法介(jie)紹(shao)說明

德國Fischer菲希爾測厚儀FMP30 FMP40使用操作手冊(ce)和測量方(fang)法介紹說明

儀器簡介

FMP30 FMP40是分(fen)體式手持鍍層涂層測厚儀(yi)，帶(dai)線探(tan)頭(tou)，便攜式涂層鍍層測厚儀(yi)，可以測量磁(ci)性(xing)鋼鐵基(ji)材(cai)上非(fei)磁(ci)性(xing)鍍層和鋁銅基(ji)材上非(fei)導電涂層的厚(hou)度。根據不同(tong)測量(liang)要求場合(he)，可以更換使用(yong)不同(tong)規格(ge)功能的探(tan)頭進行測量(liang)。

7 設置儀器(qi)和探(tan)頭

當(dang)儀器開機后，會(hui)遇到下面(mian)的幾種(zhong)情況(kuang)：

1.儀器和連接的探頭已經握(wo)手(shou)，并(bing)且有(you)可用的應用程式(shi)，屏幕(mu)(mu)上顯(xian)示(shi)測量界面。在屏幕(mu)(mu)上方的測量方法標記沒(mei)有(you)閃爍，

在這種情況下，可以開始進行測量。

2.儀器沒有(you)建立過(guo)應用程式。這種情況下，屏幕會出現“應用程式未打(da)開！請(qing)按(an)ZERO 打開！”，這時需要建(jian)立應用程(cheng)式。

（見7.1）

3.儀器已有應用(yong)程式但不是(shi)當(dang)前(qian)(qian)探頭建立的，屏幕上方的測(ce)量方法標記(ji)“如”會閃爍，則當(dang)前(qian)(qian)探頭需要重新(xin)和主(zhu)機建立程序(xu)。

7.1 建立應用程式(shi)

我們儀(yi)器為測量所作的(de)設置和參數(shu)，和測量獲取(qu)的(de)數(shu)據一起(qi)被保存在一個文(wen)件(jian)里(li)，我們定義這(zhe)個文(wen)件(jian)叫---應用(yong)程(cheng)式。

在(zai)正(zheng)常測量前(qian)，探頭要和主機連接(jie)，并且正(zheng)確的(de)應(ying)用程式已(yi)經被建立好了(le)。

建立應用程式方法(fa)

儀器沒有建立(li)過應用程式。這種情況下，屏幕會出現“應用程式未打開！請按ZERO 打開！”，

這時按ZERO 鍵來建(jian)立程序。

選(xuan)擇(ze)正確的底材，將探頭在基材上測量幾次。按 2 次ENTER 鍵確認。應用(yong)程式建立完(wan)畢！

兩用主機，需要對(dui)磁感應和電渦流(liu)分(fen)別(bie)進行測量歸零(ling)或校(xiao)準

請用相同材(cai)質和形(xing)(xing)狀(zhuang)的加工(gong)前工(gong)件(jian)作(zuo)底材(cai)，形(xing)(xing)狀(zhuang)或材(cai)質改變(bian)后(hou)需要重新歸(gui)零/校準！

7.2 指派(pai)探頭

FISCHER 公(gong)司為滿(man)足不(bu)同客戶各種需要，開發出了不(bu)同探頭，我們的主機可(ke)以通(tong)過接不(bu)

同探(tan)頭來(lai)滿足(zu)不同情況下的(de)測量需(xu)求，這就(jiu)需(xu)要客戶掌(zhang)握主機和探(tan)頭接觸的(de)方法。

1． 關閉電源(yuan)。

2． 接上一(yi)個新探頭。

3． 開機(ji)

探頭已更換！

按(an) ZERO 鍵(jian)

指派新的探頭

如按 DEL 鍵:開(kai)始指派新的探頭。

如(ru)按 ENTER 鍵: 不指派新探頭(tou)，在(zai)測(ce)量界面上方的測(ce)量標(biao)記閃爍(shuo)。

4． 按 DEL 鍵

應(ying)用到全部應(ying)用程式(shi)

如按 DEL 鍵:所有(you)應用(yong)程式都會被指派為新探頭。

如(ru)按 ENTER 鍵: 僅指(zhi)派新(xin)探頭給(gei)當(dang)前應用程式。

7.4 校(xiao)準

校準(zhun)是使用標準(zhun)片和底材對儀器(qi)進行調校

按 CAL 鍵

『S』：偏差

『n』：測量次數

『Base material(Fe/NF)』:測量底材是鋼(gang)鐵等磁性金屬(shu)還是非(fei)鐵金屬(shu)。

在底(di)材上測量 4-5 次(ci)。

按 ENTER 鍵

『CAL-rat.1:23.70』: 在此將(jiang)標(biao)準(zhun)片上的(de)標(biao)稱值通過∧、∨鍵(jian)輸入(ru)主機。

『ENTER: ∧∨』：在測量完標(biao)(biao)準片后按∧或(huo)∨鍵來輸入標(biao)(biao)準值。

在底(di)材上(shang)放置標準片1（箔1）→進(jin)行幾次測量

如果做 2 點(dian)校準(zhun)，則標準(zhun)片由薄到(dao)厚

按 ∧,∨ 設置箔片(pian)厚度→ENTER(一直按(an)住數字會快(kuai)速跳動(dong))

按2 次(ci)ENTER，完成。

8 測量

8.1 選擇(ze)應(ying)用(yong)程式

按 APPL NO 鍵，顯示應用程(cheng)式(shi)選(xuan)擇界面(mian)。

按∧,∨ 選擇需要的應用程式，按ENTER 進入。

『APPL No』：應用程(cheng)式序號。

『n=』：應用程式內(nei)的數據個數。

8.2 調整(zheng)應用(yong)程式(shi)

按 MENU 鍵，進入應用(yong)程式調(diao)整界面，選擇所需(xu)項目。

按 ENTER 鍵，進(jin)入菜單。

按 DEL 鍵，不保(bao)存設置退出，或按MENU 鍵，保存(cun)當前修(xiu)改并退出(chu)。

9 測(ce)量(liang)統計功能

詳(xiang)見光盤內說(shuo)明書

9.1 刪除讀數

9.1.1 刪(shan)除錯誤讀數(shu)

在測量界面，按 DEL 鍵可依(yi)次刪除當前(qian)數(shu)據組內的每一個讀數(shu)。

9.1.2 刪除(chu)數據組

只能刪除未關(guan)閉的當前數據(ju)組。

BLOCK-RES→DEL

9.1.3 刪(shan)除全部讀數

FINAL-RES→DEL→DEL

9.2 連續測量(liang)模(mo)式

連續測(ce)量模式下，讀數將不(bu)會(hui)自(zi)動(dong)儲存，但按 ENTER 鍵可以(yi)儲存。

開啟/關閉連續測量模式

按 鍵可(ke)開啟/關(guan)閉連續測量模式(shi)

連續(xu)測量模式開啟后，屏幕上(shang)會有標志

型號(hao)規格：

鍍層涂層測厚儀 DELTASCOPE FMP10

鍍層(ceng)涂層(ceng)測厚儀 ISOSCOPE FMP10

鍍層涂層測厚儀 DUALSCOPE FMP20

鍍(du)層(ceng)涂(tu)層(ceng)測厚(hou)儀 DELTASCOPE FMP30

鍍層涂層測(ce)厚儀(yi) ISOSCOPE FMP30

鍍層涂(tu)層測厚儀 DUALSCOPE FMP40

測量探頭 FGAB1.3

測量探(tan)頭(tou) FTA3.3H

測量探頭 FD10